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產品名稱:
IC脈沖群抗擾度測試系統
產品型號:
HS62215
產品展商:
Langer
產品文檔:
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簡單介紹
IC脈沖群抗擾度測試系統是根據集成電路電磁兼容的測試標準設計的測試系統，IC脈沖群抗擾度測試系統主要有電磁發射測試標準IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試）、電磁抗擾度標準IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標準IEC 62215。
IC脈沖群抗擾度測試系統
的詳細介紹
本系統用于依據IEC 62215第三部分，測量集成電路對脈沖群信號的敏感度，系統由脈沖群信號發生器、注入探頭和IC測試板等三部分組成：
集成電路電磁兼容測試標準，主要有電磁發射測試標準IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試）、電磁抗擾度標準IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測試）以及脈沖抗擾度標準IEC 62215。其中，IEC 62215標準，包括以下三部分：
Part 1：通用條件和定義；
Part 2：傳導抗擾度測量方法——同步脈沖注入法 ；
Part 3：傳導抗擾度測量方法——隨機脈沖注入法參考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。
本系統用于依據IEC 62215第三部分，測量集成電路對脈沖群信號的敏感度，測試方法為：由脈沖群信號發生器產生脈沖信號，使用脈沖群注入探頭，向集成電路的電源引腳或者信號引腳注入脈沖群信號，檢查集成電路的抗干擾性能。
典型配置：
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序號
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型號
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說明
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數量
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1.1
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BPS 201
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脈沖群信號發生器
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1
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1.2
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Probe 201
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脈沖群電流注入探頭，電壓范圍5-35V
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1
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1.3
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Probe 211
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脈沖群電流注入探頭，電壓范圍0.5-5V
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1
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1.4
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Probe 301
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脈沖群電壓注入探頭，電壓范圍140-500V
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1
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1.5
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Probe 311
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脈沖群電壓注入探頭，電壓范圍5-140V
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1
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1.6
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GND 22
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針對不同尺寸集成電路適配器的接地平面
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1
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1.7
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CB 01
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連接板
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1
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1.8
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CU 10
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控制單元，控制電平的高（H）和低（L）
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1
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1.9
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OA 4005
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4通道示波器適配器
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1
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1.10
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Accessories
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電纜等附件
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1
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一、BPS201脈沖群信號發生器
主要技術指標：
脈沖群信號重復頻率：0.1 Hz - 20 kHz
脈沖群電壓：取決于所連接的注入探頭
極性：正、負或者交替
二、注入探頭
注入探頭，把BPS201產生的信號進行放大后，注入到集成電路的引腳上。
可選4個脈沖群注入探頭，分別為：
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探頭
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Probe 201
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Probe 211
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Probe 301
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Probe 301
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脈沖電壓
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5-35V
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0.5V-5V
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140V-500V
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5V-140V
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脈沖形狀
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1.5/5ns
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1.5/5ns
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1.5/20ns
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1.5/20ns
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耦合電容
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1.2μF
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1.2μF
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18pF
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18pF
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內部電阻/電感
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約1?/2nH
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約1?/2nH
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約100?/50nH
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約100?/50nH
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典型應用
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連到低阻抗結構的IC引腳，包括Vdd, Vss,信號引腳
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連到高阻抗結構的IC引腳，包括信號引腳
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三、IC測試板，包括接地平面及IC適配器等
IC測試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成：
· 接地平面：大塊連續鍍金的地平面是電磁兼容測試中確保EUT（芯片）和探頭保持良好連接的先決條件。
· IC適配器：連接EUT的小電路板。它插在地平面上并包含必需的濾波器。在測試期間它確?？煽康牡仄矫娌⑾拗艵UT的電源。
· 連接板：連接電路板，在芯片適配器和外部連接器之間。它控制LED的顯示。
其中，接地平面GND，可選：
GND20-01：針對集成電路適配器（22.7 x 22.7mm）的接地平面
GND20-02：針對集成電路適配器（32.7 x 32.7mm）的接地平面
GND20-03：針對集成電路適配器（68.1 x 22.7mm）的接地平面
GND22-04：針對集成電路適配器（100 x 100 mm）的接地平面（符合IEC61967-2標準）
IC適配器卡，用于放置被測IC，濾波器以及連接線。對于一個IC的測試，可能需要具有不同濾波參數的多個適配器卡。用于電源的濾波器，一般放在連接板上。
IC適配器卡可以由LANGER公司提供，客戶也可以在LANGER公司的協助下自己做IC適配器卡。
四、測試附件
·CU10控制單元
·OA 4005：四通道示波適配器
·TH 21探頭支架
